研究設備紹介
粉末Ｘ線回折装置 （Rigaku RINT2500HF）
微細結晶や非晶質性粉末（約 100 mg）に単色X線を照射し、生じる回折X 線の強度と回折角を測定して固体の内部構造を調べる装置であり、単結晶X線解析装置と相補的に使用されます。本装置には温度制御装置 (約-100～200℃)と小角散乱装置が付属されており、温度変化に伴う構造変化、生体高分子や合成高分子材料の長周期構造などに関する情報が得られます。
微細結晶や非晶質性粉末（約 100 mg）に単色X線を照射し、生じる回折X 線の強度と回折角を測定して固体の内部構造を調べる装置であり、単結晶X線解析装置と相補的に使用されます。本装置には温度制御装置 (約-100～200℃)と小角散乱装置が付属されており、温度変化に伴う構造変化、生体高分子や合成高分子材料の長周期構造などに関する情報が得られます。
この装置のマニュアルは こちらから
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薬学部 製剤学研究室 平山文俊 内線4161
